Teradyne推出D750Ex 高密度 LCD 驱动IC测试系统
Teradyne近日宣布推出最新的 D750Ex LCD 驱动IC测试系统 (D750Ex LCD Driver Test System)。D750Ex 专门设计用以测试高分辨率 LCD 驱动器IC。奇景光电 (Himax Technologies Limited) 为位于台湾的无晶圆 驱动IC设计厂商，采用本系统测试其下一代的大尺寸驱动器与手机驱动IC。奇景光电目前使用 D750Ex 进行生产。 先前 J750 平台的表现相当成功，已在全球有超过 2600 台的系统装机量，而此次D750Ex 即以原J750 平台作为基础。
奇景光电的业务包括设计、开发、营销对平面显示器至为关键的半导体产品。奇景光电的技术长 蔡志忠表示：“我们选择了 D750Ex 是因为这套系统生产效能高、体积小，非常能符合我们在生产、产品上市以及测试成本方面的需求。D750Ex 的弹性转换功能让我们不但可以测试 LCD 驱动IC，也能于同一平台上测试逻辑设备。”
市场调查公司iSuppli Corp 的显示器部门副总裁Paul Semenza 表示：“我们预期接下来几年消费者对于高分辨率电视、计算机屏幕、和手持设备的需求，将急速推动 TFT-LCD 半导体的市场。iSuppli 预测 2008 年 LCD 驱动IC的单位成长量将达15.1 %，同时也估计随着全球需求上扬的趋势，驱动IC的数量会从去年的 69 亿成长到 2010 年的99 亿。”
D750Ex 系统确实提供了一个每脚端(Pin)高密度资源的架构，可支持整体程序超过 97% 的平行测试效率。D750Ex 也同时具备嵌入式 DSP 与中央式 DSP 的架构，可增加处理效能。此系统的体积很小，与必须同时使用大型计算机柜和测试头的竞争对手系统相较，所需的空间减少了 50-85%。
D750Ex采用一万用接口端口 (Universal Slot) 的架构，可根据设备测试需求将多种类型设备放置于同一系统中。D750Ex 也提供了内存测试选项 (Memory Test Option, MTO)，无须额外的埠即可在一次完成测试行动驱动IC。在竞争对手的系统上，行动设备必须于两个平台上测试，一个平台测试 LCD，另一个平台测试内存。D750Ex 适用于各通道的任一脚端架构，大幅简化了探针卡的设计，也使得多点测试的开发环境更为弹性。
Teradyne LCD 驱动IC业务部的总经理 George Rose表示：“LCD 驱动器的市场主要由各种消费者产品来推动，大至平面电视和计算机屏幕，小至行动电话等产品。消费者对这些产品的质量、复杂度等要求越来越高，因此用来测试这些产品驱动IC的方法也必须越来越好。抱着这样的想法，我们与 LCD 驱动器技术中具备领导地位的奇景光电合作，以帮助我们开发 D750Ex 高密度架构，找出这个市场中最重要的测试方法。”
Rose 继续说明：“LCD 驱动器市场对于成本相当敏感，我们打造 D750Ex 的时候，将 J750 的成本优势与明显的特色都延续下来了，如体积小、产能大、拥有成本低等等。我们还扩张了 D750Ex 的脚端密度与设定弹性，让我们得以提供 LCD 驱动器IC 制造商更具成本效益的解决方案，将他们的成功更往上推进一步。”
